Sistema de aislamiento de vibración activa de sobremesa de laboratorio para microscopía de fuerza atómica Interferómetro

Personalización: Disponible
fuente de aire: necesidad
cargando: 5-100kg

Products Details

Información Básica.

No. de Modelo.
THA
peso
38kg
nivel
manual
rango de aislamiento de vibraciones
1-1000hz
Paquete de Transporte
embalaje de carbono
Especificación
520*440*100mm
Marca Comercial
thans
Origen
China
Código del HS
9001100009
Capacidad de Producción
5000pcs /año

Descripción de Producto

Lab Tabletop Active Vibration Isolation System for Atomic Force Microscopy Interferometer
Aislador de vibración activo de la serie THA

Lab Tabletop Active Vibration Isolation System for Atomic Force Microscopy InterferometerLab Tabletop Active Vibration Isolation System for Atomic Force Microscopy Interferometer
LA serie THA es un avanzado aislador de vibración activo, especialmente desarrollado para AFM y SEM, se utiliza principalmente en equipos de prueba de alta gama que son sensibles a la ligera vibración.

En el caso de la adquisición de imágenes de larga duración y la medición continua de la sonda, se necesitan aisladores de vibración para una vibración leve. Tal imagen. El sistema activo puede proporcionar una solución eficaz para la medición de nanotecnología, ya que funciona bien en seis grados de libertad.

Característica del producto Lab Tabletop Active Vibration Isolation System for Atomic Force Microscopy Interferometer

Ligero y compacto, fácil de instalar, sin necesidad de aire, plug and play
Nivelar manualmente, fácil de manejar, bajo costo
Seis grados de libertad, el sensor envía la señal al actuador para generar fuerza inversa y eliminar la vibración.
    LA serie THA es un avanzado aislador de vibración activo, especialmente desarrollado para su uso principalmente en equipos de prueba de alta gama que son sensibles a la ligera vibración, especialmente desarrollado para AFM y SEM Lab Tabletop Active Vibration Isolation System for Atomic Force Microscopy InterferometerLab Tabletop Active Vibration Isolation System for Atomic Force Microscopy Interferometer

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